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手持荧光光谱分析仪
手持荧光光谱分析仪堪称移动实验室 !便与携带及运输，一体化计算机及触屏，易于使用，可外接计算机系统，现场检测，实验室级的分析数据坚固耐用 适用于贵金属检测、环境样品分析、废油测定及地质勘探等应用。对于...
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日立XRF台式分析仪光谱仪
日立XRF台式分析仪光谱仪EA1000AIII，专为 RoHS/WEEE 等环境法规的有害物质筛查与来料/质量检验设计；仪器采用 Si 半导体检测器（无液氮维护）、配备彩色 CCD 定位与智能软件，能...
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日立专业级台式XRF分析仪光谱仪
日立专业级台式XRF分析仪光谱仪EA1280是日立推出的台式能量色散XRF分析仪，专为RoHS等法规合规与快速材料筛查设计。配备高性能SDD探测器与大样品舱，支持快速无损多元素检测(塑料筛查35s)、...
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日立同步热重分析仪 NEXTASTA系列
日立同步热重分析仪 NEXTASTA系列能在一台装置中同时进行DSC和TGA(热重分析仪)的测量。STA用于通过TGA数据评价热阻、分解温度和组件定量分析，也用于DSC试验、用DSC数据进行比热容试验...
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日立动态热机械分析仪
日立动态热机械分析仪的技术提高了测量玻璃化转变、材料硬度以及频率对机械特性影响的灵敏度。它测量材料的粘弹性。DMA分析仪对于应用研究和材料开发领域的产品工程师来说是可靠的，它为简单和复杂材料的机械性能...
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日立热机械分析仪 TMA7100 TMA7300
日立热机械分析仪 TMA7100 TMA7300用于评价样品在宽温度范围内的膨胀或收缩。此类参数对设计工程师而言至关重要，我们的TMA分析仪也用于质量保证或出厂检验，以确保客户产品精确地符合规格。日立...
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日立台式XRF镀层测厚仪
FT160日立台式XRF镀层测厚仪，旨在测量当今PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。
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日立台式XRF镀层测厚仪
日立台式XRF镀层测厚仪FT230旨在简化和加速零件和组件的测试，从而更轻松地在更短的时间内测量更多零件。FT230具有Find My PartTM(查找我的样品)智能识别、自动样品聚焦和广角摄像头等...
